其他產(chǎn)品及廠家
本實(shí)驗(yàn)?zāi)K適用與fpga 模塊（esdm-0301）配合，構(gòu)成各高速電子系統(tǒng)。如高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、dds任意信號(hào)發(fā)生器、簡易存儲(chǔ)示波器、簡易邏輯分析儀、can現(xiàn)場總線控制系統(tǒng)等。
更新時(shí)間:2025-09-18
1． 采用滴定中和法原理，在微型計(jì)算機(jī)控制下自動(dòng)完成注液、滴定、攪拌、判斷中和滴定終點(diǎn)，液晶屏幕顯示測量結(jié)果，并自動(dòng)將測量結(jié)果打印記錄。測量過程緊用7分鐘。2． 用特制試劑瓶盛裝萃取液和中和液，試劑在使用過程中與空氣隔絕，避免揮發(fā)和大氣中的二氧化碳影響。同時(shí)也起到保護(hù)操作者的作用。3． 液晶屏幕顯示，中文菜單向?qū)讲僮鳎僮髡咧粚⑾嚓P(guān)參數(shù)輸入并確定后
更新時(shí)間:2025-09-18
紫外線能激發(fā)某些物質(zhì)發(fā)生熒光和具有殺菌能力，因此紫外線分析在科學(xué)研究、醫(yī)藥衛(wèi)生、石油化工、染料、涂料、橡膠、紡織、造紙、食品、地質(zhì)勘探、考古、公安等具有廣泛的用途。
更新時(shí)間:2025-09-18
ul型阻移式物位計(jì)，對(duì)開口料倉與密閉料倉中的粉狀、顆粒狀、塊狀物料進(jìn)行檢測、報(bào)警及自動(dòng)控制。經(jīng)鋼鐵、耐火、水泥、橡膠、化纖、電力等工業(yè)的長期運(yùn)行，都獲得理想效果，被廣泛用于工業(yè)生產(chǎn)中。ul型儀表屬機(jī)械儀表，結(jié)構(gòu)簡單，耐高溫，防塵，耐沖擊，無繁雜電氣線路，控制可靠，可長期運(yùn)行。其產(chǎn)品型號(hào)可分為ul-2、ul-3、ul-4、ul-k等。
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滾動(dòng)軸承和齒輪箱的振動(dòng)既含有高頻沖擊振動(dòng)，又含有低頻振動(dòng)。檢測此類振動(dòng)時(shí)，既要檢測高頻沖擊振動(dòng)，又要關(guān)心低頻振動(dòng)烈度，通過無量綱的脈沖指標(biāo)來進(jìn)行狀態(tài)判斷更為有效。hg-2510正是基于以上思想設(shè)計(jì)而成，它既可以測量振動(dòng)烈度，又可以測量高頻加速度的峰值和平均值，從而獲得高頻加速度的脈沖指標(biāo)。另外還提供軸承，齒輪高頻絕對(duì)判定標(biāo)準(zhǔn)和低頻振動(dòng)烈度標(biāo)準(zhǔn)(iso-2372)來幫助判別軸承和齒輪狀態(tài)。
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激光雙向測徑儀,是采用激光掃描原理進(jìn)行非接觸在線測量的高精度測量裝置,它在兩個(gè)方向(即x軸和y軸)同時(shí)測量外徑,適用于金屬線材料、玻璃管、膠管、電線電纜等外徑的測量和控制,雙向同時(shí)測量,平均值顯示,克服了單向測徑儀無法測量不圓體的缺點(diǎn),可同時(shí)顯示線材、管材的外徑和不圓度。
更新時(shí)間:2025-09-18
hcfs/r 型熱（冷）量表是消化吸收德國超聲波熱量表，針對(duì)中國供熱水質(zhì)較差的現(xiàn)狀，并創(chuàng)新、自主研發(fā)生產(chǎn)的超聲波式熱量表。精度高，穩(wěn)定性好，壽命長，漢字操作提示，簡單實(shí)用。該產(chǎn)品可采暖計(jì)量以及空調(diào)計(jì)冷，還提供了多種遠(yuǎn)傳通訊模塊供用戶選擇，以便于實(shí)現(xiàn)智能化辦公需要，全面提升物業(yè)管理高效化、精準(zhǔn)化、智能化、個(gè)性化。
更新時(shí)間:2025-09-18
優(yōu)點(diǎn)：測量空間、場所不受限制體積小，單機(jī)即可操作自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。 終止測量30秒內(nèi)儀器自動(dòng)關(guān)閉，并保存所測的大、小、終值貼標(biāo)簽，長距離測試， 偵測距離0-350mm功能描述量程 1-99，999rpm精度 ±0.02% of mv (+1---+99.99rpm)電源需求電壓 2aa物理特性長度 144mm
更新時(shí)間:2025-09-18
本儀器由半導(dǎo)體激光管、微型穩(wěn)壓電源、光學(xué)系統(tǒng)、調(diào)焦系統(tǒng)、隔爆結(jié)構(gòu)和調(diào)節(jié)裝置組合而成，為體式激光指向產(chǎn)品。本儀器集中我公司原有激光產(chǎn)品的許多優(yōu)點(diǎn)，造型新穎，調(diào)節(jié)靈活，安裝快捷、方便、安全性能高，使用壽命長。發(fā)光器采用進(jìn)口晶體管，可隨意調(diào)焦，可更換激光管及穩(wěn)定電源。本儀器在-20℃~40℃環(huán)境中及在海拔5000米以上高原環(huán)境中都可正常使用。
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類型：便攜式 測量范圍：0-20ppm 測量對(duì)象：cl2 測量精度：0.1 電壓：dc3.6v鋰電；1200mah（v） 分辨率：0.3 尺寸：110mm×60mm×40mm（mm） 重量：≤0.2g（kg） 電源：dc3.6v鋰電；1200mah
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in8雙環(huán)入滲儀是用來測量水滲入土壤的滲透速度。in8有個(gè)6英寸的內(nèi)環(huán)、12英寸的外環(huán)，環(huán)高7英寸。在雙環(huán)的中心有根焊接鋼棒來穩(wěn)固外環(huán)和內(nèi)環(huán)，使兩個(gè)環(huán)處于同心。鋼棒兩端有橡膠手柄，使內(nèi)外環(huán)插入土壤變得很簡單。此種環(huán)適用于土壤堅(jiān)硬的地區(qū)。15分鐘內(nèi)測定滲透速率。
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泵頭殼體材料—pps聚苯硫醚，在蠕動(dòng)泵正常工作時(shí)，液體只接觸軟管，由于長期摩擦 或輸送腐蝕性液體，軟管會(huì)逐漸老化，甚至破裂。旦腐蝕性液體滲漏，首先會(huì)接觸泵 頭，如果泵頭的材料不耐腐蝕，必然導(dǎo)致其酥裂；這將給生產(chǎn)、試驗(yàn)或教學(xué)帶來不必要的損失。而pps-聚苯硫醚材料的泵頭不存在以上問題。聚苯硫醚泵頭精度高，耐高溫， 抗腐蝕，尤其在抗有機(jī)溶劑等強(qiáng)化學(xué)腐蝕方面表現(xiàn)優(yōu)異，它拓寬了蠕動(dòng)泵的使用范圍， 使其在更多的領(lǐng)域發(fā)揮作用。
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dg-1型車燈調(diào)試儀是采用光電原理，經(jīng)精密加工的特殊光學(xué)鏡頭而設(shè)計(jì)制造。本產(chǎn)品適用于各種汽車檢測中心、制造廠、維修廠及車隊(duì)，可對(duì)各種機(jī)動(dòng)車輛前照燈的發(fā)光強(qiáng)度及偏斜度進(jìn)行準(zhǔn)確的測量校正，是種理想的無源調(diào)試儀，具有指示精確、直觀、性能穩(wěn)定、隨意移動(dòng)等特點(diǎn)。
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emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
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相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 , emmc5 , 上電時(shí)序測試
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相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號(hào)相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
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相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試
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電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
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數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
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數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc5 上電時(shí)序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號(hào)保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí)，host 可以很方便檢測到該信號(hào)，并開始接收 response。
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clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
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數(shù)據(jù)信號(hào)測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
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復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時(shí)序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí)，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
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簡介用于按《水泥膠砂干縮試驗(yàn)方法》(gb751-81)的要求測定水泥試件各齡期的干縮率及按jc313-82標(biāo)準(zhǔn)測定膨脹率。
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emmc 上電時(shí)序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
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emmc 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2025-09-18
emmc 控制信號(hào)測試 控制信號(hào)過沖測試 控制信號(hào)高低電平測試
更新時(shí)間:2025-09-18
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個(gè)典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
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emmc4 上電時(shí)序測試 電源紋波測試 時(shí)鐘測試 數(shù)據(jù)信號(hào)測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
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相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測試 , 電源紋波測試 , 時(shí)鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
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emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2025-09-18
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2025-09-18
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2025-09-18
藏 青色冷庫防寒背帶褲，聚酰胺滌綸/棉制面料，折縫式接縫，內(nèi)部襯里為內(nèi)部為dupont填充物，內(nèi)部垂直絎縫間距12到15厘米，從服裝外部看不見接縫， 和服裝同長的雙拉鏈頭拉鏈
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jc506-bm-2型斑馬法檢測儀是依據(jù)中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)gb11614-1999的技術(shù)要求而設(shè)計(jì)制造，用于檢測浮法玻璃的光學(xué)變形角(斑馬角)的測試儀器
更新時(shí)間:2025-09-18
工作環(huán)境應(yīng)清潔，光線較暗，無陽光直射，工作時(shí)室內(nèi)環(huán)境應(yīng)不隨外界環(huán)境變化變化，無灰塵，無烈振動(dòng)。
更新時(shí)間:2025-09-18
xf802-y320數(shù)字雜音計(jì)，主要用于程控交換機(jī)電源，電話加權(quán)雜音電壓的測量。本儀表符合*電信聯(lián)合會(huì)（itu）建議的電話加權(quán)網(wǎng)絡(luò)雜音測試要求，并以*的數(shù)字信號(hào)處理方式來測量雜音
更新時(shí)間:2025-09-18
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時(shí)間:2025-09-18
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個(gè)設(shè)備，這兩個(gè)設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個(gè)層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報(bào)文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時(shí)，pcie設(shè)備使用該信號(hào)向處理器系統(tǒng)提交喚醒請(qǐng)求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie 初始化完成后會(huì)進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號(hào)質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時(shí)鐘問題
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動(dòng)了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時(shí)無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對(duì)業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個(gè)處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號(hào)線組成32對(duì)差分信號(hào)，其中16對(duì)petxx信號(hào)用于發(fā)送鏈路，另外16對(duì)perxx信號(hào)用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號(hào)。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號(hào)幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號(hào)幅度越來越低，對(duì)整個(gè) 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對(duì)信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請(qǐng)求，個(gè)是type00h配置請(qǐng)求，另個(gè)是type 01h配置請(qǐng)求。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r(shí)代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價(jià)值和 有助于自己設(shè)計(jì)的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計(jì)需求。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個(gè) ddr3 設(shè)計(jì)的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計(jì)時(shí)，工程師會(huì)按照主芯片給的設(shè)計(jì)規(guī)范進(jìn)行設(shè)計(jì)。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號(hào)出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個(gè)寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個(gè)廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時(shí)間:2025-09-18
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號(hào)波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計(jì)改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計(jì)完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會(huì)延遲產(chǎn)品上市時(shí)間并增加物料成本。
更新時(shí)間:2025-09-18
最新產(chǎn)品
- @市場推送901E-2531 32PT 2025/9/20 21:49:10
- 主推MR-J4-60B 2025/9/20 21:48:15
- @商務(wù)主推ABE6SH4511 2025/9/20 21:47:17
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- 南京停車場劃線設(shè)計(jì) 車位劃線，熱熔劃線，納米硅劃線，地下車庫劃線 2025/9/20 21:41:17
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