leica dmi5000m 全自動采用先進(jìn)的 hc無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù),徹底消除雜散光等干擾因素;在整個(gè)光學(xué)系統(tǒng)內(nèi), 對涉及成像質(zhì)量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、目鏡、照相接口等) 進(jìn)行最優(yōu)化組合,實(shí)現(xiàn)圖像分辨率和反差的最優(yōu)化,得到銳利圖像的同時(shí)追求最高分辨率。可接顯微硬度計(jì)、繪圖儀、宏觀儀、ccd或照相系統(tǒng),可接微分干涉臺階儀進(jìn)行高精度測量,可接大尺寸物臺用于半導(dǎo)體檢測,與多種顯微圖像分析軟件共用,升級為其他觀察方法。
更新時(shí)間:2025-09-19