OMRON AOI 光學檢測機
| | M SIZE | L SIZE | |
| P/Z/S | |||
| 圖像型號 輸入部分 | 攝像頭 | 3CCD攝像頭 | |
| 照明系列 | 環(huán)狀LED（R.G.B） | ||
| 畫像分辨率 | 10,15,20μm | ||
| 機構部分 | 傳送方式 | 皮帶傳送方式 | |
| 生產線高度 | 900±15mm | ||
| 軌道寬頻跳幀 | 自動調整 | ||
| 基板固定方式 | 外形固定 | ||
| 電源部分 | AC100/115V/120V/200V/220V/230V/240V±10％（單相） | ||
| 氣壓 | 0.4~0.6Mpa | ||
| 使用環(huán)境溫度 | +10~ +35％ | ||
| 使用環(huán)境濕度 | 35~80％RH（無結露） | ||
| 重量 | 約500kg | 約850kg | |
| 外形尺寸 | 700(w)×900(D)×1600(H)mm | 920(w)×1365(D)×1600(H)mm | |
RL-100系列光學隔震平臺
1.產品特點●結構穩(wěn)固可靠；●工作臺面精密磨制、完全去除精加工痕跡、外形光滑精度高；●固體阻尼隔振；●臺面選用優(yōu)質鋼材、蜂巢內核、鋼性強不變形。
●特殊規(guī)格，特殊材料接收訂制。
2.主要參數
●.平面度≤0.10mm/m²；●.表面密度紋理，完全去除精加工痕跡、外形光滑精度高，粗糙度≤1.6um； ●.固有頻率3～6HZ，固體阻尼隔振；●.振幅≤5um；●.臺面材料：lCrl3（鐵磁不銹鋼）；臺面安裝孔：25mm*25mm陣列，M6螺紋孔。
3. 調整和使用●用低纖維軟布擦凈工作臺面，并將標準水平儀輕放工作臺中間部位●調整調節(jié)環(huán)，校正水平，順時針旋為調低，逆時針旋調高，使水平氣泡調整到中間位置●一只手相對固定調節(jié)環(huán)，另一只手逆時針用力擰緊承壓板，鎖緊相對高度●工作臺面上擱置的任何設備或工具，都必須小心輕放，盡量不要相對摩擦，以避免損傷工作臺面，降低 使用精度●工作臺面安裝孔，是用于固定設備的M6螺孔，使用時避免用力過大，影響工作臺精度
ELAP編碼器 光學尺
| 產品描述 |
|
德國徠卡陰道鏡1800萬像素超高清 婦科光學顯微鏡
| 型號 | LC-9200A | LC-9200B | LC-9200C |
| 結構 | 推車式 | 推車式 | 推車式 |
| 顯示器 | 液晶顯示器分辨率≥1024×768 | ||
| 打印機 | / | 彩色噴墨打印機≥1200dpi | |
| 計算機 | / | CPU Intel系列 core2 Duo，主頻不小于2.5GHz,內存不小于2G DDRⅡ800,硬盤(SATA)不小于250G；軟件。 | |
| 攝像機 | 1/3英寸CCD,大于520線，80萬像素，最低照度0.4Lx | ||
| 陰道顯微鏡 | 倍率手輪示值：0.4、0.6、1、1.6、2.5、 光學放大：0.8X至5.0X(即對應放大倍率4X至25X) 目鏡：寬視野，10×21mm 物鏡：完整的消差物鏡，標準配備300mm 工作距離：250mm～350mm 觀察筒：雙目45度斜視觀察 筒間距調節(jié)：55mm～75mm 觀察視野范圍：8.8mm～55.0mm | ||
| 光源系統(tǒng) | 鹵素燈、光導纖維導光束，照度不低于2000Lx | ||
| 升降式支架 | 上下升降，左右移動 | ||
| 輸入功率 | ≤300VA | ||
| 序號 | 標 準 | 要求 | |||
| 1 | 總放大率誤差 | ±7.5% | |||
| 2 | 左右光學系統(tǒng)之間的放大率差 | ≤1.5% | |||
| 3 | 左右光學系統(tǒng) 之間的視場應一致 | 在物鏡像平面內垂直方向的偏移量(mm) | ≤0.2 | ||
| 水平方向的偏移量(mm) | ≤0.4 | ||||
| 4 | 左右光學系統(tǒng)之間的焦距差(mm) | ≤1.5×DF | |||
| 5 | 在最高放大率視場中心的分辨力不小于(線對/mm) | 1800×NA | |||
| 6 | 左右視場之間的像傾斜差 | ≤2° | |||
| 7 | 目 鏡 | 1）左右光學系統(tǒng)之間出射光瞳高度差(mm) | 置視度刻值在0位≤1.5 | ||
| 2）如使用視度，一個視度刻劃的校正誤差(m-1) | 零視度指示誤差±0.25 | ||||
| 3) 瞳距最小調整范圍(mm) | 55～75 | ||||
| 4）視度最小調整范圍 | 常用（m-1） | ﹢5～–5 | |||
| 注1：大物鏡焦距300時，最大放大倍率NA=0.038mm,視場中心分辨率不小于68.4線對/mm。 | |||||
| 注2：大物鏡焦距300時，最高放大率DF=2.398mm，左右光學系統(tǒng)焦距差：≤3.6mm。 | |||||
| 注3：大物鏡焦距300時，最低放大倍率DF=8.36mm，左右光學系統(tǒng)焦距差：≤12.54 mm。 | |||||
| 注4：示教鏡NA=0.022mm； 副鏡和主鏡NA相同NA=0.14。 | |||||
uvcut光學濾光片（配合氙燈、汞燈使用）
A7845-1-CF專業(yè)光學觀察窗
光學應用中會涉及到強磁場或對剩余磁性過度靈敏的現象。MPF標準的熔融石英觀察窗和專業(yè)光學觀察窗可以滿足這種特殊應用。這種觀察窗主要采用316LN不銹鋼，CP鈦和鋁等無磁性材料作為組裝材料。
技術參數：
漏率: <2x10（-10） atm cc/sec He
平行度:UV 等級: <30 Arc MinutesDUV 等級: <10 Arc Seconds
法蘭材料:304/ 316 LN Stn. Stl.
平面度: DUV: l/4 @ 632nm Transmitted Wavefront
表面拋光度:UV等級: 40/20DUV等級: 20/10
熱量范圍: -100˚C to 200˚C
材料: Corning HPFS 7980 Fused Silica
應用行業(yè)：半導體處理設備、材料處理、高溫學、檢溫學、熱成像、光譜儀、YAG激光器、分析和測量設備、準分子激光器
相關產品：石英玻璃觀察窗，真空觀察窗，藍寶石觀察窗，多層鍍膜觀察窗，專業(yè)光學觀察窗
武漢普斯特科技有限公司從2006年創(chuàng)業(yè)以來， 公司的技術人員經過原廠培訓和市場實踐，積累了豐富的專業(yè)知識。目前，公司將原單一的基礎儀器領域逐步向專業(yè)材料物理性能測試、低溫真空獲得及真空測量等領域發(fā)展. 我們是MPF公司、美國安捷倫公司、美國Labtech、英國Wayne Kerr美國Stanford Research Systems授權的一級總代理商。 主營真空泵，離子真空泵、真空分子泵、真空擴散泵、干式真空泵、真空機械泵、羅茨真空泵等。
如有您需要了解美國MPF遠程光學觀察窗的相關信息，請撥打免費熱線400-666-8894或是發(fā)送郵件至sales@whpusite.com進行咨詢！
實物光學儀器儀表計量檢定校準
深圳市華鑫計量儀器有限公司是深圳市政府依法注冊成立，具有獨立的法人地位。是計量儀器、儀表檢測、計量校準、儀器校準 計量器具 專業(yè)技術機構。 華鑫計量校準實驗室經中國合格評定國家委會CNAS，編號:CNAS_L2122（范圍見附表）本著“公正、科學、、誠信”的質量方針。按照ISO17025國際計量準則要求，因此.所出具的校準證書和檢測報告獲得與CNAS簽署互認多邊協議國家地區(qū)實驗室。機構其它成員的和報告滿足ISO/IEC71025和ISO9000族的溯源性要求。具有獨立第三方公證地位 承校范圍： 長度實驗室 .溫度實驗室. 力學實驗室 磁電實驗室 光學實驗室 無線電實驗室 我們的目標：客戶滿意。 服務周期 市內3-5個工作日 省內4-5工作日 省外5-7個工作日可安排下廠 可安排工程師下廠現場服務 在周邊客戶安排上門取送儀器服務（免費） 儀器計量檢測、銷售.維修、體系認證 .第三方審核 ——不僅僅是服務
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WGG2-323光學高溫計
WGG2型光學高溫計是非接觸式測量高溫的儀表，當被測量的溫度高于熱電偶所能使用的范圍，以及熱電偶不可能裝置或不適宜裝置的場所，用光學高溫計一般可以滿足這個要求。
WGG2型光學高溫計能在環(huán)境溫度10～50℃，相對濕度不大于85﹪的情況下連續(xù)工作。
| 測量范圍℃ | 量程℃ | 允許基本誤差℃ | 附 注 | ||
| WGG2-201 | 700～2000 | 700～1500 | 800～＜900 | ±33 | 800℃以下僅供參考 |
| 900～1500 | ±22 | ||||
| 1200～2000 | ±30 | ||||
| WGG2-323 | 1200～3200 | 1200～2000 | ±30 ±80 | ||
上海自動化儀表股份有限公司營銷中心－－-產品咨詢，訂購聯系電話：021－51871155 / 51871177－811 企業(yè)QQ：2355608622聯系人：陳經理郵箱:chenzhi@mc-saic.com更多產品信息請點擊：www.mc-saic.com
膜厚儀|干膜光學膜厚儀|捷揚光電
光譜反射儀是一種功能強大切且非接觸式的薄膜測量方法，膜厚儀器，當薄膜厚度和光學常數在測量系統(tǒng)范圍內時，系統(tǒng)能又快又輕松的測量。在用來測量薄膜厚度時，有幾種常見的對光譜反射儀的誤解。比如： 1. 它只能測量薄膜厚度，且需要預先知道光學常數(折射率和消光系數); 2. 和橢偏儀相比它的精度較低; 3. 只有一到兩個厚度可同時測量！ ∵@些誤解反映了光譜反射儀這種技術沒有被充分利用。其使用方法和數據分析有待進一步的深入。 光譜反射儀和橢偏儀都是間接的測量方法，都需要建立一個模型，通過調整物理參數(厚度和光學常數)，使得模型與測量得到的反射率曲線達到擬合度，以此來反推計算薄膜厚度和光學常數。橢偏儀考慮了光的極化，采用P波和S偏振反射光之間的相位差異，然而光譜反射儀不使用相位差，光學膜厚儀，非常薄的薄膜對相位差敏感度很高，但薄膜厚度增加相位差敏感度會減少。事實上，橢偏儀在下列情況下較光譜反射儀有明顯優(yōu)勢： 1. 待測薄膜很薄<10納米 2. 在測量非吸收薄膜時，同步測量T、n(K=0) 3. 直接測量n，k值(主要用于未知材料的基片) 但是光譜反射儀在下列情況下具有明顯的優(yōu)勢： 1. 精度要求較高的厚度測量(除很薄的薄膜外)MProbe精度<0.01納米 2. 測量較厚的薄膜(>10微米)。Mprobe精度達到500微米 3. 更高的測量速度 Mprobe<1毫秒 4. 測量表面粗糙度 這兩種技術都可以測量復雜的多層薄膜，計算其厚度和材料的n、k值！ ⊥ǔＨ藗兌际褂霉庾V反射儀，認為它適合簡單的厚度測量：一至二層薄膜。下面是一些使用光譜反射儀證明其存在更復雜的應用能力的例子：通常，測量poly-Si多晶硅和SiN(氮化硅)是兩個主要應用，導致了橢偏儀和光譜反射儀在半導體工業(yè)領域里有著廣泛的應用。以傳統(tǒng)的使用方法，顯然不適合這些應用。因此，說明光譜反射儀的應用是非常有意義的。事實上如果運用得當，測量它們非常成功。現今越來越多的行業(yè)里都需要應用膜厚測量儀器，這種儀器的應用可以快速地檢測出物件的厚度，從而作出各種判決。當然，這其中使用最廣泛的就要數零件制造商。在膜厚測量儀器里，膜厚儀器，根據它的工作原理不同，有著不同的分類，而這些分類各自的特點也是不同。
首先，膜厚儀廠商批發(fā)，我們來介紹一種膜厚測量儀，那便是涂層測厚儀。之所以會有這樣的一種分類，膜厚儀，那與零件涂層有關，它主要就是用于測量涂層厚度大小，從而確定涂層是否符合標準。它可以準確無誤地測量出數值，而且測量的速度也是其它測厚無法比較。這樣的一種專業(yè)性測量涂層的儀器，應用于其它方便便會顯示出它的不足之處。
接著便是第二種膜厚測量儀，紙張測厚儀。對于4mm以下的紙張，我們無法用普通的尺子或者是測量工具進行測量。為了解決這個難題，就出現了紙張測厚儀，它的應用目的就是能夠讓極薄的紙張在經過它的測量以后得出準確的數值，確保紙張的均一性。像這一類的膜厚測量儀，干膜膜厚儀，反而是不能測量4mm以上的物件，若要執(zhí)意測量，其所得出的數值只會是不準確。
最后，便是第三種膜厚測量儀，薄膜測量儀。薄膜測量儀的使用，主要的是針對于薄膜、薄片等一類的物件厚度的測量。它的研究最為深入，在技術上也是得到了大力支持，在現今的技術支持下，它可以進行數值的輸出、任意位置置零等高級功能的運行。薄膜測厚儀的使用雖然廣泛，而且技術也成熟，但要掌握其工作原理，還是有賴于每一個專業(yè)的操作人員。工作原理的掌握，對于工作人員熟練故障出現以及避免故障出現方法有極大的幫助。
東莞市嘉儀自動化設備科技有限公司：http://www.canneedauto.com/
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vml智泰光學影像儀
| 具體型號 | VML/-T250 | VML/-T300 | VML/-T400 |
| (X/Y/Z軸)量測行程（mm） | 250＊150＊200 | 300＊200＊200 | 400＊300＊200 |
| 全機尺寸(mm) | 1000＊650＊1650 | ||
| 機臺底座和立柱材料 | 高精度花崗石 | ||
| 光源材質 | LED冷光源 | ||
| X,Y軸量測精度 | （3+L/200）um | ||
| 放大倍率 | 光學放大率：0.7－－4.5X，影像放大率：28－－180X | ||
| 光學尺解析度 | 1 um | ||
| 重復性 | 2 um | ||
| 操作方式 | 手動 | ||
| CCD | 3D Family-L,41萬像素，彩色 | ||
| 機臺承重 | 30Kg | ||
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- 現貨EE-SX675 2025/9/20 21:27:11
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- @商務推出AT-1575-AES 2025/9/20 21:22:49
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- 推出2004_RF15BR1AS3 2025/9/20 21:18:20
- 推出557.202.047 2025/9/20 21:17:44
- @商務主推2464-SX(FA) 7PX25AWG(40/0.08) 2025/9/20 21:16:48
- @市場推選TI24 TrueView? 2025/9/20 21:14:15