X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960
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CMI900CMI900(X熒光鍍層測(cè)厚儀)
| 詳細(xì)說明 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
行業(yè) CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。 應(yīng)用 用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
X-Strata960 X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960
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X-Strata960X熒光鍍層測(cè)厚儀
基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上，引進(jìn)的設(shè)計(jì)：
l 新100瓦X射線管 - 市場(chǎng)上所能提供的X射線管。提高30%測(cè)量精度，同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間
l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器，可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置，同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。
l 距離獨(dú)立測(cè)量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）？赏ㄟ^手動(dòng)調(diào)整也可以通過自動(dòng)鐳射聚焦來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精確對(duì)準(zhǔn)。
l 自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測(cè)量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾(gè)方向簡(jiǎn)便的裝載和觀察樣品。
l 3種樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍)/XY手動(dòng)控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺(tái)；標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動(dòng)范圍)。
l 內(nèi)置PC用戶界面
技術(shù)參數(shù)
l X射線激發(fā)和檢測(cè)
牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
高分辨封氣(Xe)正比計(jì)數(shù)器可獲取的計(jì)數(shù)靈敏度，配合二次濾光器機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的檢出效果
l 數(shù)字脈沖處理
4096通道數(shù)字多道分析器，數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號(hào)采集(每秒計(jì)數(shù)量)，從而的測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果
l 手動(dòng)或自動(dòng)透鏡控制
手動(dòng)透鏡控制：通過手動(dòng)調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動(dòng)透鏡控制：激光束自動(dòng)尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
l 自由距離測(cè)定
簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)置和維護(hù)
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個(gè)校正
對(duì)不規(guī)則樣品更靈活的測(cè)量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi)，可測(cè)量樣品表面的任何一點(diǎn)
通過DIM旋鈕或使用自動(dòng)激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離
l 附帶自動(dòng)透鏡功能的自動(dòng)激光聚焦
獨(dú)特的、自動(dòng)樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動(dòng)
消除樣品碰擊Z軸的機(jī)會(huì)
改善DIM的聚焦過程
l 標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦
標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動(dòng)尋找正確的Z軸位置，提高分析再現(xiàn)性，結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動(dòng)
改善DIM和常規(guī)固定焦距測(cè)量時(shí)的聚焦過程
l 微小準(zhǔn)直器
儀器至少裝備一個(gè)客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測(cè)量，并提高測(cè)量效率
備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用
多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時(shí)安裝4個(gè)準(zhǔn)直器
l 大樣品室設(shè)計(jì)
方便超大樣品的推拉式平臺(tái)：如大面積PCB板、較長(zhǎng)的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進(jìn)樣和觀察樣品
三種樣品臺(tái)備選：可編程XY軸樣品臺(tái)、手動(dòng)XY軸樣品臺(tái)、固定位置樣品臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)化Z軸：最大高度230mm
l 集成化計(jì)算機(jī)
工作站式設(shè)計(jì)：改善人機(jī)工程學(xué)、方便使用
簡(jiǎn)化設(shè)備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
減少整機(jī)占用空間
USB和Ethernet接口：打印機(jī)、刻錄機(jī)、局域網(wǎng)和遠(yuǎn)程在線支持功能
l 其他硬件特點(diǎn)
CCD相機(jī)擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)定樣品的高分辨、實(shí)時(shí)、彩色圖像觀測(cè)
溫度補(bǔ)償功能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)溫度，并自動(dòng)校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅(jiān)實(shí)耐用的儀器設(shè)計(jì)適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的人機(jī)工程學(xué)
X-Strata980X熒光鍍層測(cè)厚儀
- 100瓦X射線管
- 25mm2PIN 探測(cè)器
- 多準(zhǔn)直器配置
- 掃描分析及元素分布成像功能
- 靈活運(yùn)用多種分析模型
- 清晰顯示樣品合格/不合格
- 超大樣品艙
- 同時(shí)分析元素含量和鍍層厚度
CMI900X熒光鍍層測(cè)厚儀
CMI900 X熒光鍍層測(cè)厚儀
產(chǎn)品特點(diǎn)：
u 精度高、穩(wěn)定性好
u 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
u 測(cè)量范圍寬
u NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
u 全球服務(wù)及支持
技術(shù)參數(shù)
| 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | ||
| X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) | ||
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
| 標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn) 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 | |||
| 裝備有安全防射線光閘 | |||
| 二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
| 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 | ||
| 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
| 測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器） | ||
| 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器） | |||
| 樣品室 | CMI900 | CMI950 | |
| －樣品室結(jié)構(gòu) | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | |
| －最大樣品臺(tái)尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －XY軸程控移動(dòng)范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 | 300mm x 300mm | |
| －Z軸程控移動(dòng)高度 | 43.18mm | XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm | |
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 | ||
| －樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | ||
| 激光自動(dòng)對(duì)焦功能 | |||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
| 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 | IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī) | ||
| 分析應(yīng)用軟件 | 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | ||
| －測(cè)厚范圍 | 可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 | ||
| －基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 | ||
| 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） | |||
| 可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92 | |||
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| 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 | ||
| 貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià) | |||
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| 材料和合金元素分析， | ||
| 材料鑒別和分類檢測(cè) | |||
| 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | |||
| 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 | |||
| 元素光譜定性分析 | |||
| －調(diào)整和校正功能 | 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 | ||
| －測(cè)量自動(dòng)化功能 | 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“PointShoot” | ||
| 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 | |||
| 測(cè)量位置預(yù)覽功能 | |||
| 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 | |||
| －樣品臺(tái)程控功能 | 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) | ||
| 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量 | |||
| 測(cè)量位置預(yù)覽（圖表顯示） | |||
| －統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 | 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||
| 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||
| 數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能 | |||
| 任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 | |||
| －系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 | Z軸保護(hù)傳感器 | ||
| 樣品室門開閉傳感器 | |||
| 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師 | |||
行業(yè)：
CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。
應(yīng)用：
用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。
900CMI900（X熒光鍍層測(cè)厚儀）
應(yīng)用
CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的
情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量 ，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。
行業(yè)
用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量。
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
－最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
－Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。
（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動(dòng)對(duì)焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類： 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92？赏瑫r(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測(cè)
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
－測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式，測(cè)量位置預(yù)覽功能，激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
－樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn)，連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量位置預(yù)覽
－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器，樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
●測(cè)量范圍寬
●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
●全球服務(wù)及支持
980X熒光鍍層測(cè)厚儀ROHS檢測(cè)儀
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
－樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室
－最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
－Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。
（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動(dòng)對(duì)焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類： 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92？赏瑫r(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測(cè)
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
－測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式，測(cè)量位置預(yù)覽功能，激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
－樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn)，連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量位置預(yù)覽
－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器，樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
●測(cè)量范圍寬
●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
●全球服務(wù)及支持
湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900
CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺(tái)式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測(cè)量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度 簡(jiǎn)單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化，測(cè)量元素范圍廣： 可預(yù)設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性： 自動(dòng)熱補(bǔ)償測(cè)量?jī)x器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果 簡(jiǎn)單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì) 可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作 堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì) 經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù)，在全球銷售量超過3000臺(tái)
x熒光鍍層測(cè)厚儀
最新產(chǎn)品
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