X熒光鍍層測厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960
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CMI900CMI900(X熒光鍍層測厚儀)
| 詳細說明 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
行業(yè) CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。 應用 用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
CMI900X-熒光鍍層測厚儀
CMI做為品牌在PCB及電鍍行業(yè)已形成一個行業(yè)標準，南華地區(qū)90%以上的大型企業(yè)都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業(yè)工具
X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 950金屬鍍層厚度的精確測量
CMI 900 / 950 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/950主機的自動化控制，
技術參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于全世界的測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先于世界，精確到0。025um (相對與標準片)
C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/950系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
CMI900/950主要技術規(guī)格如下：
No. | 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | |
1 | X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學系統(tǒng) | |
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 X射線管功率可編程控制 | |||
裝備有安全防射線光閘
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2 | 濾光片程控交換系統(tǒng) | 根據(jù)靶材，標準裝備有相應的一次X射線濾光片系統(tǒng) | |
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，Co、Ni、Fe、V等多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
位置傳感器保護裝置，防止樣品碰創(chuàng)探測器窗口
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3 | 準直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器，程序交換控制 | |
多種規(guī)格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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4 | 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) | |
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
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5 | X射線探測系統(tǒng) | 封氣正比計數(shù)器 | |
裝備有峰漂移自動校正功能的高速信號處理電路
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6 | 樣品室 | CMI900 | CMI950 |
| －樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 |
－最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－XY軸程控移動范圍 | 標準：152.4 x 177.8mm 任選：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
－Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm | |
－XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
X-Strata960 X熒光鍍層測厚儀X-Strata960
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XRF2000熒光鍍層測厚儀
詳細資料請電：１３７６１４００８２６
韓國Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統(tǒng),十字線自動調整.超大/開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測量各類金屬層、合金層厚度.
可測元素范圍： 鈦（Ti） – 鈾（U） 可測量厚度范圍： 原子序 22-25，0.1-0.8μm 26-40，0.05-35μm 43-52，0.1-100μm 72-82，0.05-5μm X-射線管：油冷,超微細對焦 高壓：0-50KV（程控） 準直器： 固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm 自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm 電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析 鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層. 鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標準藥液. 定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量. 光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠將測量結果進行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便的控制品質
X-Strata960X熒光鍍層測厚儀
基于25年涂鍍層測量經驗，在CMI900系列測厚儀的堅實基礎上，引進的設計：
l 新100瓦X射線管 - 市場上所能提供的X射線管。提高30%測量精度，同時減少50%測量時間
l 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準直器，可測量電子器件上更小的部位。提供改進的CCD攝像頭及縮放裝置，同時提供更高精度的Y軸控制。
l 距離獨立測量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內12.5-90mm（0.5-3.5inch）對樣品表面進行測量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）？赏ㄟ^手動調整也可以通過自動鐳射聚焦來實現(xiàn)對樣品的精確對準。
l 自動鐳射聚焦 - 自動尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測量再現(xiàn)性。也可選擇標準的鐳射聚焦模式。
l 的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設計可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾方向簡便的裝載和觀察樣品。
l 3種樣品臺選項 - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動范圍)/XY手動控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺；標準配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動范圍)。
l 內置PC用戶界面
技術參數(shù)
l X射線激發(fā)和檢測
牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點鎢靶X射線管
高分辨封氣(Xe)正比計數(shù)器可獲取的計數(shù)靈敏度，配合二次濾光器機構實現(xiàn)的檢出效果
l 數(shù)字脈沖處理
4096通道數(shù)字多道分析器，數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號采集(每秒計數(shù)量)，從而的測量統(tǒng)計結果
l 手動或自動透鏡控制
手動透鏡控制：通過手動調整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動透鏡控制：激光束自動尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
l 自由距離測定
簡化系統(tǒng)設置和維護
在聚焦距離范圍內僅需要一個校正
對不規(guī)則樣品更靈活的測量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內，可測量樣品表面的任何一點
通過DIM旋鈕或使用自動激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離
l 附帶自動透鏡功能的自動激光聚焦
獨特的、自動樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動
消除樣品碰擊Z軸的機會
改善DIM的聚焦過程
l 標準激光聚焦
標準激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動尋找正確的Z軸位置，提高分析再現(xiàn)性，結果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動
改善DIM和常規(guī)固定焦距測量時的聚焦過程
l 微小準直器
儀器至少裝備一個客戶指定規(guī)格的準直器以化測量，并提高測量效率
備有各種規(guī)格準直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用
多準直器程序交換系統(tǒng)可同時安裝4個準直器
l 大樣品室設計
方便超大樣品的推拉式平臺：如大面積PCB板、較長的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進樣和觀察樣品
三種樣品臺備選：可編程XY軸樣品臺、手動XY軸樣品臺、固定位置樣品臺
標準配置自動化Z軸：最大高度230mm
l 集成化計算機
工作站式設計：改善人機工程學、方便使用
簡化設備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
減少整機占用空間
USB和Ethernet接口：打印機、刻錄機、局域網和遠程在線支持功能
l 其他硬件特點
CCD相機擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實現(xiàn)對測定樣品的高分辨、實時、彩色圖像觀測
溫度補償功能監(jiān)測系統(tǒng)溫度，并自動校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
光譜校準、單擊鼠標執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅實耐用的儀器設計適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設計實現(xiàn)的人機工程學
CMI960X熒光鍍層測厚儀
CMI900 X熒光鍍層測厚儀特點:● 精度高、穩(wěn)定性好 ● 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能 ● 測量范圍寬 ● X熒光鍍層測厚儀NIST認證的標準片 ● 全球服務及支持
CMI900 X熒光鍍層測厚儀技術參數(shù)： X射線激發(fā)系統(tǒng)垂直上照式X射線光學系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準? 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 準直器程控交換系統(tǒng)X熒光鍍層測厚儀最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 多種規(guī)格尺寸準直器任選：－圓形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等? 測量斑點尺寸在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器) 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)樣品室結構： 開槽式樣品室 最大樣品臺尺寸： 610mm x 610mm XY軸程控移動范圍： 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 Z軸程控移動高度:? 43.18mm XYZ三軸控制方式: X熒光鍍層測厚儀多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 樣品觀察系統(tǒng):高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統(tǒng)配置: IBM計算機,惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應用軟件:? 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺, 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 測厚范圍:?可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 CMI900 X熒光鍍層測厚儀基本分析功能:采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測，如Au karat評價 材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析調整和校正功能: 系統(tǒng)自動整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移 測量自動化功能鼠標激活測量模式：“PointShoot” 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 樣品臺程控功能: 設定測量點, 連續(xù)多點測量, 測量位置預覽(圖表顯示)X熒光鍍層測厚儀統(tǒng)計計算功能平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫存儲功能 任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 系統(tǒng)安全監(jiān)測功能Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師
CMI900X熒光鍍層測厚儀
CMI900 X熒光鍍層測厚儀
產品特點：
u 精度高、穩(wěn)定性好
u 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
u 測量范圍寬
u NIST認證的標準片
u 全球服務及支持
技術參數(shù)
| 主要規(guī)格 | 規(guī)格描述 | ||
| X射線激發(fā)系統(tǒng) | 垂直上照式X射線光學系統(tǒng) | ||
| 空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 | |||
| 標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 | |||
| 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標準 75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 | |||
| 裝備有安全防射線光閘 | |||
| 二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 | |||
| 準直器程控交換系統(tǒng) | 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器 | ||
| 多種規(guī)格尺寸準直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 | |||
| 測量斑點尺寸 | 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準直器） | ||
| 在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準直器） | |||
| 樣品室 | CMI900 | CMI950 | |
| －樣品室結構 | 開槽式樣品室 | 開閉式樣品室 | |
| －最大樣品臺尺寸 | 610mm x 610mm | 300mm x 300mm | |
| －XY軸程控移動范圍 | 標準：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 | 300mm x 300mm | |
| －Z軸程控移動高度 | 43.18mm | XYZ程控時，152.4mm XY軸手動時，269.2mm | |
| －XYZ三軸控制方式 | 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 | ||
| －樣品觀察系統(tǒng) | 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 | ||
| 激光自動對焦功能 | |||
| 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 | |||
| 計算機系統(tǒng)配置 | IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 | ||
| 分析應用軟件 | 操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 | ||
| －測厚范圍 | 可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。 | ||
| －基本分析功能 | 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應用提供必要的校正用標準樣品。 | ||
| 樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） | |||
| 可檢測元素范圍：Ti22 – U92 | |||
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| 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正 | ||
| 貴金屬檢測，如Au karat評價 | |||
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| 材料和合金元素分析， | ||
| 材料鑒別和分類檢測 | |||
| 液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 | |||
| 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較 | |||
| 元素光譜定性分析 | |||
| －調整和校正功能 | 系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移 | ||
| －測量自動化功能 | 鼠標激活測量模式：“PointShoot” | ||
| 多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復測量模式 | |||
| 測量位置預覽功能 | |||
| 激光對焦和自動對焦功能 | |||
| －樣品臺程控功能 | 設定測量點 | ||
| 連續(xù)多點測量 | |||
| 測量位置預覽（圖表顯示） | |||
| －統(tǒng)計計算功能 | 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 | ||
| 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 | |||
| 數(shù)據(jù)庫存儲功能 | |||
| 任選軟件：統(tǒng)計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書 | |||
| －系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 | Z軸保護傳感器 | ||
| 樣品室門開閉傳感器 | |||
| 操作系統(tǒng)多級密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師 | |||
行業(yè)：
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點，在質量管理到不良品分析有著廣泛的應用。
應用：
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個行業(yè)。
900CMI900（X熒光鍍層測厚儀）
應用
CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點的
情況下進行表面鍍層厚度的測量 ，從質量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應用。
行業(yè)
用于電子元器件，半導體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個行業(yè)表面鍍層厚度的測量。
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
－樣品室結構 開槽式樣品室
－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
－Z軸程控移動高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。
（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類： 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92？赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價
材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
－調整和校正功能 系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移
－測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能 設定測量點，連續(xù)多點測量，測量位置預覽
－統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標準片
●全球服務及支持
980X熒光鍍層測厚儀ROHS檢測儀
主要規(guī)格 規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光片任選
準直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時裝配6種規(guī)格的準直器
多種規(guī)格尺寸準直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時，最小測量斑點尺寸為：
0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
在12.7mm聚焦距離時，最大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
樣品室
－樣品室結構 開槽式樣品室
－最大樣品臺尺寸 610mm x 610mm
－XY軸程控移動范圍 標準：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選
－Z軸程控移動高度 43.18mm
－XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制
－樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標準放大倍數(shù)為30倍。
（50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動對焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
樣品種類： 鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測元素范圍：Ti22 – U92？赏瑫r測定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測，如Au karat評價
材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達4個樣品的光譜同時顯示和比較元素光譜定性分析
－調整和校正功能 系統(tǒng)自動調整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移
－測量自動化功能 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測量模式，測量位置預覽功能，激光對焦和自動對焦功能
－樣品臺程控功能 設定測量點，連續(xù)多點測量，測量位置預覽
－統(tǒng)計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲功能
－系統(tǒng)安全監(jiān)測功能 Z軸保護傳感器，樣品室門開閉傳感器
●精度高、穩(wěn)定性好
●強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能
●測量范圍寬
●NIST認證的標準片
●全球服務及支持
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