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emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進入該階段。
更新時間:2025-09-18
相關產品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-09-18
相關產品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進行數(shù)據接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-18
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-09-18
數(shù)據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-18
數(shù)據信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當 emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-18
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應 data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
更新時間:2025-09-18
數(shù)據信號測試 emmc4 復位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據，其中上升沿傳輸數(shù)據的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-09-18
復位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當 emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-18
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2025-09-18
emmc 時鐘測試 數(shù)據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-09-18
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2025-09-18
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-09-18
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2025-09-18
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據存取等功能。
更新時間:2025-09-18
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-09-18
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-09-18
藏 青色冷庫防寒背帶褲，聚酰胺滌綸/棉制面料，折縫式接縫，內部襯里為內部為dupont填充物，內部垂直絎縫間距12到15厘米，從服裝外部看不見接縫， 和服裝同長的雙拉鏈頭拉鏈
更新時間:2025-09-18
jc506-bm-2型斑馬法檢測儀是依據中華人民共和國標準gb11614-1999的技術要求而設計制造，用于檢測浮法玻璃的光學變形角(斑馬角)的測試儀器
更新時間:2025-09-18
工作環(huán)境應清潔，光線較暗，無陽光直射，工作時室內環(huán)境應不隨外界環(huán)境變化變化，無灰塵，無烈振動。
更新時間:2025-09-18
xf802-y320數(shù)字雜音計，主要用于程控交換機電源，電話加權雜音電壓的測量。本儀表符合*電信聯(lián)合會（itu）建議的電話加權網絡雜音測試要求，并以*的數(shù)字信號處理方式來測量雜音
更新時間:2025-09-18
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數(shù)據發(fā)送端和數(shù)據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-18
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現(xiàn)的。在pcie體系結構中，數(shù)據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數(shù)據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-09-18
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-18
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-18
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2025-09-18
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產品發(fā)展到當?shù)臅r代，工程界已經積累了很多實踐經驗，再搭上互聯(lián)網大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經驗分享中獲得很多有價值和 有助于自己設計的經驗，但是經驗并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設計需求。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進行設計時，工程師會按照主芯片給的設計規(guī)范進行設計。結合項目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓撲結構， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產完成后的調試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調性。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設備的生產廠商，而device id代表這個廠商所生產的具體設備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調的情況。按照以上設計改板后的測試結果與仿真 致。 如果不進行仿真，那么只能在產品設計完成之后進行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-18
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-18
misenbo 硬件開放實驗室 開放實驗室 硬件實驗室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-18
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2025-09-18
新品粉末靜電測試儀,絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結構測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀）材料的電阻和電阻率，
更新時間:2025-09-18
通過分析粉體動態(tài)數(shù)據來描述流動行為表征，粉體工業(yè)在加工、存儲、運輸、料倉中常出現(xiàn)拱架/鼠孔結構；如壓縮拱受料倉壓力作用固結強度增加導致結拱。
更新時間:2025-09-18
功能概述：電壓降綜合測試儀為瑞柯儀器公司開發(fā)，是目前行業(yè)中功能和技術較先進之品，與國際同行產品較一致性，采用ad芯片控制技術及先進的電源設計控制技術，確保產品在測量過程中恒流、恒壓供給；有可調節(jié)之電流和電壓輸出兩種測試方式；
更新時間:2025-09-18
多功能電壓降測試儀采用高端工業(yè)自動化測控技術結合高精度ad芯片；使用標準4.3寸液晶顯示器；所有數(shù)據輸入采用薄膜按鍵設定，在測試時可以通過設定電壓降上、下限及測試時間來確保產品測試的準確性及嚴格性。
更新時間:2025-09-18
本儀器采用直流恒流源輸出系統(tǒng)結合集成電路及高精度芯片控制，大液晶顯示屏幕更加直觀，直讀電阻，電壓降，電阻率，高精度的測試量程；各類參數(shù)和功能設定通過薄膜面板實現(xiàn)，人性化設計符合人體工學原理，提供usb、232、485通訊接口；可以連接打印機、電腦和其他外接控制單元。
更新時間:2025-09-18
代理ifm電感式接近開關igt203ifm電感式接近開關igt203工作溫度范圍大；ifm電感式接近開關igt203即使在頻繁溫度波動情況下仍具有抗熱震性能；ifm電感式接近開關igt203耐用的不銹鋼外殼，適用于食品和飲料工業(yè)；ifm電感式接近開關igt
更新時間:2025-09-18
布料面料克重取樣器 蘇州600克電子克重儀電子克重儀是用來測服裝克重測試產品，它采用精鋼制作的軸心，黃銅制作的安全栓構造而成，標配圓形橡膠墊片、加厚型刀片。用于切取各種織物和復合材料的圓形樣品，取樣都常與電子天平配套，用來測試織物單位面積的重量。
更新時間:2025-09-18
合肥100平方克重取樣器 手壓式克重切圓刀手壓式取樣刀用途：適用于切取各種毛紡、棉紡、化纖、針織等織物的圓形樣品。廣泛應用于棉、毛、絲、麻、化纖等各種紡織、針織品的裁切取樣，同時亦可裁切皮革、紙制品、鋁箔等。尤其適合多層布一次裁切，減少了工作量，提高了工作效率。
更新時間:2025-09-18
最新產品
- @市場推送901E-2531 32PT 2025/9/20 21:49:10
- 主推MR-J4-60B 2025/9/20 21:48:15
- @商務主推ABE6SH4511 2025/9/20 21:47:17
- 推出85115702Z069 2025/9/20 21:46:36
- @市場推選6EP1437-2BA20 2025/9/20 21:44:04
- 推出G6Q-TR2A 2025/9/20 21:43:31
- @商務主推XS16SI 85069 2025/9/20 21:42:58
- 推選45ASR-1JPB3-F4 2025/9/20 21:42:09
- 南京停車場劃線設計 車位劃線，熱熔劃線，納米硅劃線，地下車庫劃線 2025/9/20 21:41:17
- 推出750-610 2025/9/20 21:39:24
- 現(xiàn)貨DST1-ID12SL-1 2025/9/20 21:38:31
- @采購推選8719NH.00305 2025/9/20 21:37:46
- 推選V-RFM-20A HP02292A HP02293A HP02294A 2025/9/20 21:36:56
- 推出1746-OB16 2025/9/20 21:34:12
- 推送HG-KR43BJ 2025/9/20 21:33:25
- @市場推選PIB 651A-1500-3.3 KV/L 1343 2025/9/20 21:32:43
- 推送6ES7541-1AD00-0AB0 2025/9/20 21:31:56
- @市場推選SC26-2DE 85068 2025/9/20 21:29:05
- @商務主推V7768-322000 / GE CPU BOARD 2025/9/20 21:28:21
- 推出S-P11 XSC1-011 2025/9/20 21:27:44
- 現(xiàn)貨EE-SX675 2025/9/20 21:27:11
- 推出SGMPH-04AAA61D 2025/9/20 21:24:22
- 現(xiàn)貨HC-KFS053 2025/9/20 21:23:34
- @商務推出AT-1575-AES 2025/9/20 21:22:49
- @市場推選202552/01-8-01-4-4-03-23/000 2025/9/20 21:22:01
- 現(xiàn)貨6DD1611-0AD0 2025/9/20 21:19:11
- 推出2004_RF15BR1AS3 2025/9/20 21:18:20
- 推出557.202.047 2025/9/20 21:17:44
- @商務主推2464-SX(FA) 7PX25AWG(40/0.08) 2025/9/20 21:16:48
- @市場推選TI24 TrueView? 2025/9/20 21:14:15