其他產(chǎn)品及廠家
本儀器由半導(dǎo)體激光管、微型穩(wěn)壓電源、光學(xué)系統(tǒng)、調(diào)焦系統(tǒng)、隔爆結(jié)構(gòu)和調(diào)節(jié)裝置組合而成，為體式激光指向產(chǎn)品。本儀器集中我公司原有激光產(chǎn)品的許多優(yōu)點(diǎn)，造型新穎，調(diào)節(jié)靈活，安裝快捷、方便、安全性能高，使用壽命長。發(fā)光器采用進(jìn)口晶體管，可隨意調(diào)焦，可更換激光管及穩(wěn)定電源。本儀器在-20℃~40℃環(huán)境中及在海拔5000米以上高原環(huán)境中都可正常使用。
更新時間:2025-09-18
類型：便攜式 測量范圍：0-20ppm 測量對象：cl2 測量精度：0.1 電壓：dc3.6v鋰電；1200mah（v） 分辨率：0.3 尺寸：110mm×60mm×40mm（mm） 重量：≤0.2g（kg） 電源：dc3.6v鋰電；1200mah
更新時間:2025-09-18
in8雙環(huán)入滲儀是用來測量水滲入土壤的滲透速度。in8有個6英寸的內(nèi)環(huán)、12英寸的外環(huán)，環(huán)高7英寸。在雙環(huán)的中心有根焊接鋼棒來穩(wěn)固外環(huán)和內(nèi)環(huán)，使兩個環(huán)處于同心。鋼棒兩端有橡膠手柄，使內(nèi)外環(huán)插入土壤變得很簡單。此種環(huán)適用于土壤堅(jiān)硬的地區(qū)。15分鐘內(nèi)測定滲透速率。
更新時間:2025-09-18
泵頭殼體材料—pps聚苯硫醚，在蠕動泵正常工作時，液體只接觸軟管，由于長期摩擦 或輸送腐蝕性液體，軟管會逐漸老化，甚至破裂。旦腐蝕性液體滲漏，首先會接觸泵 頭，如果泵頭的材料不耐腐蝕，必然導(dǎo)致其酥裂；這將給生產(chǎn)、試驗(yàn)或教學(xué)帶來不必要的損失。而pps-聚苯硫醚材料的泵頭不存在以上問題。聚苯硫醚泵頭精度高，耐高溫， 抗腐蝕，尤其在抗有機(jī)溶劑等強(qiáng)化學(xué)腐蝕方面表現(xiàn)優(yōu)異，它拓寬了蠕動泵的使用范圍， 使其在更多的領(lǐng)域發(fā)揮作用。
更新時間:2025-09-18
dg-1型車燈調(diào)試儀是采用光電原理，經(jīng)精密加工的特殊光學(xué)鏡頭而設(shè)計制造。本產(chǎn)品適用于各種汽車檢測中心、制造廠、維修廠及車隊(duì)，可對各種機(jī)動車輛前照燈的發(fā)光強(qiáng)度及偏斜度進(jìn)行準(zhǔn)確的測量校正，是種理想的無源調(diào)試儀，具有指示精確、直觀、性能穩(wěn)定、隨意移動等特點(diǎn)。
更新時間:2025-09-18
emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state，發(fā)送完 cid 后，emmc device就會進(jìn)入該階段。
更新時間:2025-09-18
相關(guān)產(chǎn)品：電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
更新時間:2025-09-18
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host，頻率與 clk 信號相同，用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用，啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性，省去總線 tuning 過程。
更新時間:2025-09-18
相關(guān)產(chǎn)品：clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
更新時間:2025-09-18
電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
更新時間:2025-09-18
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-18
數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣，固定為 "0"，在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下，cmd 信號保持高電平，當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時，host 可以很方便檢測到該信號，并開始接收 response。
更新時間:2025-09-18
clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試，眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值，不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
更新時間:2025-09-18
數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下，data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù)，其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) （byte 1,3,5...），下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)（byte 2,4,6 ...）。
更新時間:2025-09-18
復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時，host 可以發(fā)送 cmd19 命令，觸發(fā)總線測試過程（bus testing procedure），測試總線硬件上的連通性。
更新時間:2025-09-18
簡介用于按《水泥膠砂干縮試驗(yàn)方法》(gb751-81)的要求測定水泥試件各齡期的干縮率及按jc313-82標(biāo)準(zhǔn)測定膨脹率。
更新時間:2025-09-18
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時間:2025-09-18
emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2025-09-18
emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
更新時間:2025-09-18
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時間:2025-09-18
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時間:2025-09-18
emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時間:2025-09-18
emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2025-09-18
emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2025-09-18
藏 青色冷庫防寒背帶褲，聚酰胺滌綸/棉制面料，折縫式接縫，內(nèi)部襯里為內(nèi)部為dupont填充物，內(nèi)部垂直絎縫間距12到15厘米，從服裝外部看不見接縫， 和服裝同長的雙拉鏈頭拉鏈
更新時間:2025-09-18
jc506-bm-2型斑馬法檢測儀是依據(jù)中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)gb11614-1999的技術(shù)要求而設(shè)計制造，用于檢測浮法玻璃的光學(xué)變形角(斑馬角)的測試儀器
更新時間:2025-09-18
工作環(huán)境應(yīng)清潔，光線較暗，無陽光直射，工作時室內(nèi)環(huán)境應(yīng)不隨外界環(huán)境變化變化，無灰塵，無烈振動。
更新時間:2025-09-18
xf802-y320數(shù)字雜音計，主要用于程控交換機(jī)電源，電話加權(quán)雜音電壓的測量。本儀表符合*電信聯(lián)合會（itu）建議的電話加權(quán)網(wǎng)絡(luò)雜音測試要求，并以*的數(shù)字信號處理方式來測量雜音
更新時間:2025-09-18
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2025-09-18
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設(shè)備，這兩個設(shè)備互為是數(shù)據(jù)發(fā)送端和數(shù)據(jù)接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2025-09-18
pcie總線的層次組成結(jié)構(gòu)與網(wǎng)絡(luò)中的層次結(jié)構(gòu)有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實(shí)現(xiàn)的。在pcie體系結(jié)構(gòu)中，數(shù)據(jù)報文先在設(shè)備的核心層(device core)中產(chǎn)生，然后再經(jīng)過該設(shè)備的事務(wù)層(transactionlayer)、數(shù)據(jù)鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2025-09-18
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當(dāng)pcie設(shè)備進(jìn)入休眠狀態(tài)，主電源已經(jīng)停止供電時，pcie設(shè)備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設(shè)備提供主電源vcc。
更新時間:2025-09-18
pcie 初始化完成后會進(jìn)入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質(zhì)量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2025-09-18
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現(xiàn)代文明進(jìn)程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進(jìn)入 21 世紀(jì)以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進(jìn)。天的大規(guī)模集成電路生產(chǎn)和制造工藝已經(jīng)達(dá)到 10 nm 量產(chǎn)水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當(dāng)然對業(yè)內(nèi)從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴(yán)峻。
更新時間:2025-09-18
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴(yán)格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調(diào)制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸?shù)?pam-4 技術(shù)，由于采用 4 電平調(diào)制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2025-09-18
pcie1.0x16 眼圖測試 物理層致性測試電子產(chǎn)品發(fā)展到當(dāng)?shù)臅r代，工程界已經(jīng)積累了很多實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，再搭上互聯(lián)網(wǎng)大力 發(fā)展的快車，每位工程師都可以很輕松地從其他人的工程經(jīng)驗(yàn)分享中獲得很多有價值和 有助于自己設(shè)計的經(jīng)驗(yàn)，但是經(jīng)驗(yàn)并不是金科玉律，也不是都適合工程師特殊的設(shè)計需求。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實(shí)際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時，工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項(xiàng)目工程的需要，其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)， ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中，發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配，只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商，而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7，其vendor id為0x10ee，而device id為0x7028。
更新時間:2025-09-18
pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真，那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題，如果要改善， 只能再改板調(diào)整，還可能出現(xiàn)改板很多次的情況，這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
更新時間:2025-09-18
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 ets-lindgren 7405近場探頭 儀器資訊
更新時間:2025-09-18
misenbo 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 硬件實(shí)驗(yàn)室 nemtest dito 靜電放電模擬器 儀器資訊
更新時間:2025-09-18
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開放實(shí)驗(yàn)室 開放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時間:2025-09-18
新品粉末靜電測試儀,絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機(jī)主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀）材料的電阻和電阻率，
更新時間:2025-09-18
通過分析粉體動態(tài)數(shù)據(jù)來描述流動行為表征，粉體工業(yè)在加工、存儲、運(yùn)輸、料倉中常出現(xiàn)拱架/鼠孔結(jié)構(gòu)；如壓縮拱受料倉壓力作用固結(jié)強(qiáng)度增加導(dǎo)致結(jié)拱。
更新時間:2025-09-18
功能概述：電壓降綜合測試儀為瑞柯儀器公司開發(fā)，是目前行業(yè)中功能和技術(shù)較先進(jìn)之品，與國際同行產(chǎn)品較一致性，采用ad芯片控制技術(shù)及先進(jìn)的電源設(shè)計控制技術(shù)，確保產(chǎn)品在測量過程中恒流、恒壓供給；有可調(diào)節(jié)之電流和電壓輸出兩種測試方式；
更新時間:2025-09-18
最新產(chǎn)品
- @市場推送901E-2531 32PT 2025/9/20 21:49:10
- 主推MR-J4-60B 2025/9/20 21:48:15
- @商務(wù)主推ABE6SH4511 2025/9/20 21:47:17
- 推出85115702Z069 2025/9/20 21:46:36
- @市場推選6EP1437-2BA20 2025/9/20 21:44:04
- 推出G6Q-TR2A 2025/9/20 21:43:31
- @商務(wù)主推XS16SI 85069 2025/9/20 21:42:58
- 推選45ASR-1JPB3-F4 2025/9/20 21:42:09
- 南京停車場劃線設(shè)計 車位劃線，熱熔劃線，納米硅劃線，地下車庫劃線 2025/9/20 21:41:17
- 推出750-610 2025/9/20 21:39:24
- 現(xiàn)貨DST1-ID12SL-1 2025/9/20 21:38:31
- @采購?fù)七x8719NH.00305 2025/9/20 21:37:46
- 推選V-RFM-20A HP02292A HP02293A HP02294A 2025/9/20 21:36:56
- 推出1746-OB16 2025/9/20 21:34:12
- 推送HG-KR43BJ 2025/9/20 21:33:25
- @市場推選PIB 651A-1500-3.3 KV/L 1343 2025/9/20 21:32:43
- 推送6ES7541-1AD00-0AB0 2025/9/20 21:31:56
- @市場推選SC26-2DE 85068 2025/9/20 21:29:05
- @商務(wù)主推V7768-322000 / GE CPU BOARD 2025/9/20 21:28:21
- 推出S-P11 XSC1-011 2025/9/20 21:27:44
- 現(xiàn)貨EE-SX675 2025/9/20 21:27:11
- 推出SGMPH-04AAA61D 2025/9/20 21:24:22
- 現(xiàn)貨HC-KFS053 2025/9/20 21:23:34
- @商務(wù)推出AT-1575-AES 2025/9/20 21:22:49
- @市場推選202552/01-8-01-4-4-03-23/000 2025/9/20 21:22:01
- 現(xiàn)貨6DD1611-0AD0 2025/9/20 21:19:11
- 推出2004_RF15BR1AS3 2025/9/20 21:18:20
- 推出557.202.047 2025/9/20 21:17:44
- @商務(wù)主推2464-SX(FA) 7PX25AWG(40/0.08) 2025/9/20 21:16:48
- @市場推選TI24 TrueView? 2025/9/20 21:14:15